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手持式光譜儀手持式合金分析儀合金分析儀

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低氣壓、加速壽命測試

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芯片老化試驗(yàn)箱

型號(hào):TYCT
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產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置

產(chǎn)品特點(diǎn)
SATAI/II/III 的測試
ISATA,PCIE的測試片數(shù)定制化,例如 96片、156片、216片、316片等等
溫度范圍可選-70度~ + 180度的測試
具備異常斷電測試和老化測試
自動(dòng)化溫控測試
全部采用軟件進(jìn)行智能化控制測試
可個(gè)性化定制測試軟件
快速升降溫控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化測試
網(wǎng)絡(luò)化控制,可以異地控制測試并看測試結(jié)果
可開發(fā)APP遠(yuǎn)程控制測試

性能技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)

TYCT-300

溫度控制范圍

RT + 5℃~ + 150℃可選

融分布均勻度(空載)

±2℃

測試數(shù)量

300片可選

電源

220VAC ±10%, 50HZ

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